半导体元件工业申请测试电路及测试方法、开关电源控制器专利，可确定死区时间测量结果

排行榜 2025年08月03日 00:26 0 admin

金融界2025年8月1日消息，国家知识产权局信息显示，半导体元件工业有限责任公司申请一项名为“测试电路及测试方法、开关电源控制器”的专利，公开号CN120415103A，申请日期为2024年05月。

专利摘要显示，本公开涉及一种测试电路及测试方法、开关电源(SPS)控制器。该测试电路可被配置为经由反馈路径将选自驱动器的高侧栅极信号和该驱动器的低侧栅极信号的所选栅极信号耦合到该驱动器的输入，该反馈路径致使所选栅极信号以指示该驱动器的传播时间延迟的周期振荡，根据这些传播时间延迟，可以确定死区时间测量结果。

本文源自金融界